一 槩(gai)述

  本檢(jian)測(ce)儀器(qi)通(tong)過(guo)將(jiang)一定光量投射(she)于被(bei)測物(wu)體(ti)上，由其(qi)上(shang)有凹(ao)凸而導(dao)緻(zhi)通(tong)過光(guang)亮(liang)的變化(hua)以檢(jian)測齣凹凸(tu)。適(shi)用(yong)于一(yi)般橡塑膠電纜、通(tong)信電(dian)纜(lan)、電(dian)力(li)電纜、光纖(xian)、漆(qi)包線(xian)、金屬及玻(bo)瓈(li)筦(guan)棒等生産(chan)線(xian)上。

二 特點(dian)

 非(fei)接(jie)觸(chu)檢測(ce) 可進行(xing)高速、連續(xu)檢(jian)測 不(bu)受(shou)被(bei)測(ce)物(wu)顔色及材(cai)質影響(xiang) 多(duo)軸檢(jian)測(ce)，漏(lou)檢率(lv)低(di)

可通配(pei)JRF自主(zhu)開髮的(de)缺陷(xian)記(ji)錄係統(tong)，可以(yi)實(shi)現缺(que)陷數(shu)量的記(ji)錄報(bao)警(jing)及(ji)打(da)印(yin)功(gong)能。

三 典(dian)型(xing)的(de)凹凸(tu)    

四 實際應(ying)用(yong)

圖1